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晶圆/硅片划遗线检测/统计Slip Finder
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美国
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晶圆/硅片划遗线检测/统计slip finder广泛应用于各大半导体FAB,主要用于如下一些热处理工艺后的晶圆/硅片:

Polishing, Epitaxy, RTP, Diffusion, Incoming Inspection, SOI, Anneal

部分客户参考如下:

国内主要大客户有如:中芯国际,先进半导体,华宏半导体,成都德州仪器等等。

MEMC

S.E.H

SUMCO

IBM

KOMATSU

LG

OKMETIC

MAXIM

PHILIPS

MOTOROLA

DISCO

MITSUBISHI

TOSHIBA

SAMSUNG

SONY

ST MICRO

TEXAS INSTRUMENTS

HITACHI

IBIS

...

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吴惟雨

138 1791 5874

caven.wu@sar************

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